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    V66.COM为客户提供全套测试平台和工程服务,以支持各种混合信号、射频 (RF)和毫米波、模拟和高性能数字半导体器件。我们的一站式测试服务涵盖中道晶圆测试、后道封装功能测试和系统级测试,覆盖主流到高端的各类测试平台,为客户提供行业领先的测试技术能力、品质保障、流程优化、成本控制和运营效率。

    测试服务项目
    测试平台
    晶圆分拣
    测试开发服务
    射频测试
    混合信号测试
    存储器测试
    高端数字测试
    整条测试
    成品测试
    终端测试
    测试管理系统
    可靠性试验与失效分析

    V66.COM的认证质量测试中心,提供多种可靠性试验,包括环境可靠性测试、使用寿命可靠性测试、板级可靠性试验,和全方位的失效分析服务。

    V66.COM已经获得中国合格评定国家认可委员会的实验室认可证书(CNAS认证)

    可靠性测试:

    环境可靠性

    环境可靠性

    板级可靠性

    • 热变形检测 Warpage

    • 板级跌落试验 Drop Test(Board Level)

    • 板级温度循环 TCT(Board Level)

    其他类可靠性

    • 可焊性 Solder

    • 耐焊接热 SHT

    • 高速老化寿命试验 HAST

    • 回流焊 Reflow

    失效分析:

    环境可靠性